发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时，它可通过的控温加热装置在常温~600℃温度范围内加热样品，从而对样品进行发射率变温测量。
发射率测量仪的发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。各种物质的发射率是由物体的本身材质、表面粗糙程度、表面几何形状、拍摄角度、波长以及被摄物体本身的温度所决定（其中物体本身材质是对物体发射率影响的一个因素），所以相同的温度下，物质不同，向外辐射的能量也会不同。
1、仪器中装有小型标准黑体辐射源和六位高精度微机控温仪（能显示到1mK）不仅使它具有稳定的宽光谱测量范围，而且还极大地提高了其在测量时的可靠性和稳定性。
2、采用*的光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射（MR）探测通道外，还增设了专门的漫反射（DR）补偿通道。
4、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，提高了仪器性能。
5、操作简单，使用方便，测量速度快。
6、可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。
7、在测量过程是不会损伤被测样品。
8、带RS-232串口及复位键RST。
